Chotest Nano 3D Optical Surface Profilometers SuperView W1

Номер на продукта: SuperView W1/W1-Pro
Име на продукта: Nano 3D Optical Surface Profilometers
Стандартно зрително поле: (0.98*0.98) mm
Максимално зрително поле: (6x6) mm
Отразяваща способност на изпитвания обект: 0.5% ~ 100%
Повторяемост на RMS грапавостта: 0.005 nm
Обхват на сканиране: ≤ 10 mm
Резолюция: 0.1 nm
Точност на измерване на етап: 0.3%
Повторяемост на измерването на етап: 0.08% 1σ
Производител: Chotest Technology Inc.
Страна на произход: Китай

Направете запитване

Технически данни и информация

Номер напродукта		SuperView W1	SuperView W1-Pro
Източник на светлина		Green LED
Видео система		1024×1024
Стандартно зрително поле		0.98×0.98 mm
Максимално зрително поле		6.0×6.0 mm (По избор)
Държач за обектива		3 отвора- ръчно
XY предметна маса	Размер	320×200 mm	300×300 mm
	Обхват на движение	140×100 mm	200×200 mm
	Товароносимост	10 kg
	Метод на управление	Моторизирано
	Наклон	±5° Ръчно
Насочване на ос Z	Обхват на движение	100 mm
	Метод на управление	Моторизирано
Максимална скорост на сканиране		45 µm/s
Обхват на сканиране на ос Z		10 mm
Резолюция на ос Z		0.1 nm
Странична резолюция		0.1 μm
Измерване на етап	Несигурност	0.3%
	Повторяемост	0.08% 1σ
Размери		L900W700H604 mm	L900W700H700 mm
Тегло		<150 kg	<160 kg
Мощност		AC 100~240 V, 50/60 Hz, 4 A, 300 W

Забележка: Параметрите на работа са тествани с помощта на основен стъпков калибър с точност 4,7 μm в лаборатория съгласно ISO 4287 и ISO 25178.

Степен на увеличение на обектива			2.5×	5×	10×	20×	50×	100×
Числов диаметър на отвора			0.075	0.13	0.3	0.4	0.55	0.7
Оптична резолюция @550 nm (µm)			3.7	2.1	0.92	0.69	0.5	0.4
Дълбочина на фокуса (µm)			48.6	16.2	3.04	1.71	0.9	0.56
Работно разстояние (mm)			10.3	9.3	7.4	4.7	3.4	2.0
Поле H×V (mm)	Видео система 1024×1024	0.5×	3.92×3.92	1.96×1.96	0.98×0.98	0.49×0.49	0.196×0.196	0.098×0.098
		0.75×	2.6×2.6	1.3×1.3	0.65×0.65	0.325×0.325	0.13×0.13	0.065×0.065
		1×	1.96×1.96	0.98×0.98	0.49×0.49	0.245×0.245	0.098×0.098	0.049×0.049

Описание на продукта

Оптичният 3D профилометър за измерване на повърхности SuperView W1 е идеален инструмент за измерване на различни прецизни части под нанометър. Въз основа на принципа на технологията за интерференция на бялата светлина, в съчетание с прецизен модул за сканиране в посока Z и алгоритъм за 3D моделиране, той сканира безконтактно повърхността на обекта, след което създава 3D изображение на повърхността. След като софтуерът XtremeVision обработи и анализира 3D изображението, се получава серия от 2D и 3D параметри, отразяващи качеството на повърхността на обекта.

SuperView W1 е лесен за използване прецизен оптичен инструмент с мощни функции за анализ на всички видове параметри на формата и грапавостта на повърхността. Благодарение на уникалния светлинен източник той може да измерва различни прецизни части с гладка и грапава повърхност.